X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysi

7690

Товар из Германии

Артикул: 325488660830

Состояние: Б/У (хорошее)

В наличии: осталось 1 шт.

7 690
Доставка в город Москва : 4 ноября
Основные характеристики
Продавец
Местонахождение
Berlin, DE
Доставка до склада в Германия
Бесплатно
EAN:
9783527278428
ISBN:
3527278427
Страна происхождения:
DE
тема:
Astronomie
Издатель:
New York, NY: VCH
Год:
1993
Автор:
Chung, Deborah D. L. et. al
Название книги:
X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ
Язык:
English
Формат:
Hardcover
Жанр:
Chemie
Продукт:
Bücher

Важно: Контент сайта носит исключительно ознакомительный характер и не направлен на пропаганду нацизма, экстремизма или ЛГБТ*. Подробнее в публичной оферте.


X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysi — купить с доставкой в Россию и СНГ

X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysi можно купить в нашем интернет-магазине с доставкой из Berlin, DE в Россию и страны СНГ по цене 7690 руб. Все товары из категории «Книги» доставляются в соответствии с обозначенными правилами в разделе «Доставка».

Если у вас возникли вопросы по товару, оплате, гарантии или доставке до вашего населённого пункта - Закажите обратный звонок!.

Приобретая товар «X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysi» через SHOPOZZ, вы можете быть уверенны в том, что получите качественный продукт, предназначенный для продажи в Berlin, DE.

Смотрите нас на
VK Video
Секретные промокоды и доступы к зарубежным распродажам в нашей полезной рассылке
Нажимая на кнопку «Подписаться» вы соглашаетесь на обработку персональных данных
Спасибо!
На вашу почту отправлено письмо с подтверждением.
Пожалуйста, перейдите по ссылке в письме, чтобы завершить подписку.
Размеры обуви и одежды Тарифы на доставку
Наверх